Alina Lyuleeva am Rasterkraftmikroskop (IMAGE)

Technical University of Munich (TUM)

Alina Lyuleeva am Rasterkraftmikroskop

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Alina Lyuleeva, Mitarbeiterin am Lehrstuhl für Nanoelektronik der Technischen Universität München, am Rasterkraftmikroskop, mit dem die Silizium-Nanoblättchen vermessen wurden.

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Uli Benz / TUM

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