液体中の正四面体構造によるＸ線散乱 (IMAGE)

Institute of Industrial Science, The University of Tokyo

液体中の正四面体構造によるＸ線散乱

Caption

シミュレーションで得られたシリカ（Ｓｉ（ケイ素）：大きい粒子、Ｏ（酸素）：小さい粒子）の液体状態に存在する、Ｓｉ原子（大きい明るい（黄色い）粒子）が形成する局所的正四面体構造によるＸ線（白いビーム）散乱のイメージ図。

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2019 Hajime Tanaka, Institute of Industrial Science, The University of Tokyo

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